[发明专利]一种用于电子和质子能谱测量的磁铁结构及方法在审
| 申请号： | 202010249767.3 | 申请日： | 2020-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN111524678A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 张丽 | 申请（专利权）人： | 张丽 |
| 主分类号： | H01F7/02 | 分类号： | H01F7/02;G01T1/36 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;饶盛添 |
| 地址： | 200000 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种用于电子和质子能谱测量的磁铁结构及方法，小型化的电子和质子能谱测量装置可以非常方便应用于激光惯性约束核聚变、激光尾场电子加速、质子加速等研究领域，进一步为此类研究领域最终实现能源、医疗、环境监测等方面的设备研制提供帮助，本发明的用于电子和质子能谱测量的磁铁结构及方法，能够对能量在几十兆电子伏(MeV)以下的电子和质子可以在极小的空间内实现能谱连续不间断测量，从而能使的测量更加精确，数据更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子 质子 测量 磁铁 结构 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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