[发明专利]微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法在审
| 申请号： | 202010245645.7 | 申请日： | 2020-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN111323408A | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 洪少欣;贺晓龙;周燕飞;殷海玮 | 申请（专利权）人： | 上海复享光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/66 | 分类号： | G01N21/66;G01J3/443 |
| 代理公司： | 上海唯源专利代理有限公司 31229 | 代理人： | 季辰玲 |
| 地址： | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法，该检测系统包括：接收光路，包括第一显微物镜及用于测定光强的第一检测装置，第一检测装置对准于第一显微物镜的后端；用于获取接收光路的响应函数的标定设备，包括光源、用于将光线汇聚于第一显微物镜的焦平面上的聚光件、用于将不同频率光线导入第一显微物镜的前端的传导件和用于测定焦平面上的不同频率光线的光谱强度分布的第二检测装置，聚光件的第一端对准于光源，聚光件的第二端对准于焦平面，传导件设置于所述焦平面；以及用于测定待测发光件的电流的第三检测装置。本发明解决了传统的外量子效率检测装置检测单像素或亚毫米级别的微小尺寸的发光器件时准确性差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 微区下 发光 量子 效率 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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