[发明专利]一种基于插值运算的光谱重构方法在审
申请号: | 202010237784.5 | 申请日: | 2020-03-30 |
公开(公告)号: | CN111309958A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 刘浩;闫晓剑;赵浩宇;张国宏 | 申请(专利权)人: | 四川长虹电器股份有限公司 |
主分类号: | G06F16/583 | 分类号: | G06F16/583;G06F30/20 |
代理公司: | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人: | 陈艺文 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及光谱重构技术领域,公开了一种基于插值运算的光谱重构方法。该方法首先选取有限数量含量已知纺织品作为样品,并采集每个样品的光谱数据,分为训练集和预测集,将训练集中样品的光谱数据结合其参比值进行偏最小二乘法建模,记录为模型A,然后根据样品参比值进行插值运算,计算虚拟插值点,再根据样品光谱数据以及虚拟插值点计算虚拟光谱数据,接着结合虚拟插值点与虚拟光谱数据对光谱模型A进行重构,获得重构模型B,最后,使用重构模型B对预测集样品进行预测,判断模型的预测效果。该方法可以有效扩充样品光谱数据库,解决光谱建模需要大量实体样品的问题。同时有着极高的重构效率,而且可以有效提升光谱模型的预测效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 运算 光谱 方法 | ||
【主权项】:
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