[发明专利]一种基于插值运算的光谱重构方法在审

专利信息
申请号: 202010237784.5 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN111309958A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 刘浩;闫晓剑;赵浩宇;张国宏 申请(专利权)人: 四川长虹电器股份有限公司
主分类号: G06F16/583 分类号: G06F16/583;G06F30/20
代理公司: 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 代理人: 陈艺文
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 运算 光谱 方法
【权利要求书】:

1.一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于包括以下步骤:

步骤一:选取有限数量含量已知纺织品作为样品,并采集每个样品的光谱数据,分为训练集和预测集,将训练集中样品的光谱数据结合其参比值进行偏最小二乘法建模,记录为模型A;

步骤二:根据样品参比值进行插值运算,计算虚拟插值点;

步骤三:根据样品光谱数据以及虚拟插值点计算虚拟光谱数据;

步骤四:结合虚拟插值点与虚拟光谱数据对光谱模型A进行重构,获得重构模型B;

步骤五:使用重构模型B对预测集进行预测,判断预测集样品的预测参比值与实际参比值之间的相对误差是否超过设定相对误差,没有超过设定相对误差则可以进行测量含量未知的样品,超过设定相对误差则增加训练集样品数量,重复步骤一至步骤五。

2.如权利要求1所述的一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于:步骤一中所述参比值选取样品的棉纤维含量,所述训练集的样品数量为两个以上,所述训练集样品数量大于或等于预测集样品数量。

3.如权利要求1所述的一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于:步骤二中所述样品参比值从小到大依次排列,在相邻两个样品参比值之间插入一个以上虚拟插值点,且所述虚拟插值点平均分布于相邻两个样品参比值之间,根据相邻两个样品参比值及虚拟插值点个数计算出各虚拟插值点数值。

4.如权利要求1所述的一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于:步骤三中所述样品光谱数据由各个波长点的光强数据构成,计算虚拟光谱数据的过程为每个插值计算单位中最大参比值对应的各个波长点光强数据依次减去最小参比值对应各个波长点光强数据,再根据虚拟插值点个数进行等比例分配,分配完成后一一对应虚拟插值点,从而得到各虚拟插值点的虚拟光谱数据。

5.如权利要求1所述的一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于:步骤四中将所述虚拟光谱数据整合在原始光谱数据中,将所述虚拟插值点整合在原始参比值集合中,并使得光谱数据与参比值一一对应,然后使用偏最小二乘法法对光谱模型A进行重新重构,得到重构模型B。

6.如权利要求1所述的一种基于插值运算的光谱重构方法,其特征在于:步骤五中当预测集样品的预测参比值与实际参比值之间的相对误差是设定相对误差的两倍以上,则可以增加数倍的训练集样品数量,重复步骤一至步骤五;当预测集样品的预测参比值与实际参比值之间的相对误差是设定相对误差的一倍以上两倍以内,则可以增加小于一倍的训练集样品数量,重复步骤一至步骤五。

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