[发明专利]光学测量方法在审
| 申请号： | 202010201039.5 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111721230A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | M·芬凯尔蒂 | 申请（专利权）人： | 科令志因伯格有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 白皎 |
| 地址： | 德国许*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于对工件上的至少一个被测对象进行光学测量的方法，包括以下方法步骤:提供待测量的工件(2,42)，其中，工件(2,42)包括循环对称的几何形状(4)，例如齿部或类似形状；指定所述工件(2；42)上至少一个待测量的被测对象；提供具有光学测量系统(8)的测量装置(6)，光学测量系统(8)用于工件(2,42)上的被测对象进行非接触测量，其中光学测量系统具有光学传感器(18)；使用光学测量系统(8)在工件(2,42)上测量至少一个待测量的被测对象；提供待测量工件(2,42)的至少一个几何参数；和基于工件(2,42)上至少一个待测量的被测对象和/或待测量工件(2,42)的至少一个几何参数，确定用于执行光学测量的至少一个测量参数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量方法 | ||
【主权项】：
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