[发明专利]样本测定装置和样本测定方法在审
| 申请号： | 202010198044.5 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111751565A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 芝正树;小竹宏纪;加藤辉人 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/04 | 分类号： | G01N35/04;G01N33/86;G01N21/31;G01N33/50 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够不进行复杂的控制，用1个装置进行2种测定的样本测定装置以及使用该样本测定装置的样本测定方法。样本测定装置（100）具备：第1处理单元（61），在第1周期对第1容器（21）所收容的样本进行第1测定；第2处理单元（62），在与第1周期不同的第2周期对第2容器（21）所收容的样本进行第2测定；中转部（201），配置在第1处理单元（61）和第2处理单元（62）之间，且用于定位第2容器（21），其中，第1处理单元（61）执行向中转部（201）交接第2容器（21）的交接作业，第2处理单元（62）执行从中转部（201）收取交接至中转部（201）的第2容器（21）的收取作业。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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