[发明专利]霍尔器件测试系统和测试方法有效
| 申请号： | 202010163246.6 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111289928B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 乔景明;史良俊;朱信阳;李静 | 申请（专利权）人： | 无锡力芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 | 代理人： | 杨瑞玲 |
| 地址： | 214100 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种霍尔器件测试系统及测试方法。所述霍尔器件测试系统包括：线圈；与所述线圈电性相连的线圈控制组件，其被配置的控制流过所述线圈的电流的大小变化，以使得所述线圈产生磁场强度变化的磁场；临近所述线圈固定设置的测试座，其中待测试霍尔器件被放置于所述测试座上；与放置于所述测试座上的待测试霍尔器件电性相连的感应检测模块，其被配置的获取待测试霍尔器件的感应信号值；与所述线圈控制组件电性连接的控制器，其被配置的控制所述线圈控制组件；与所述控制器电性相连的存储器，其被配置的存储参考数据。这样的测试方案的测试效率高，测试精度高，适合大规模针对霍尔器件进行参数测试。 | ||
| 搜索关键词： | 霍尔 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡力芯微电子股份有限公司，未经无锡力芯微电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010163246.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
