[发明专利]霍尔器件测试系统和测试方法

说明书

本发明公开了一种霍尔器件测试系统及测试方法。所述霍尔器件测试系统包括：线圈；与所述线圈电性相连的线圈控制组件，其被配置的控制流过所述线圈的电流的大小变化，以使得所述线圈产生磁场强度变化的磁场；临近所述线圈固定设置的测试座，其中待测试霍尔器件被放置于所述测试座上；与放置于所述测试座上的待测试霍尔器件电性相连的感应检测模块，其被配置的获取待测试霍尔器件的感应信号值；与所述线圈控制组件电性连接的控制器，其被配置的控制所述线圈控制组件；与所述控制器电性相连的存储器，其被配置的存储参考数据。这样的测试方案的测试效率高，测试精度高，适合大规模针对霍尔器件进行参数测试。

【技术领域】

本发明涉及霍尔器件测试领域，尤其是涉及一种霍尔器件测试系统和测试方法。

【背景技术】

霍尔器件在通讯设备、电脑、家电、小家电上面都有极为广泛的应用。霍尔器件的测试中，霍尔器件的参数测试一直是难点和重点。目前在量产的工艺中，尚没有一个高性能、高效率、高精度的霍尔器件测试方案。

因此，有必要提供一种新的改进方案来克服上述问题。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题在于提供一种高效率、高精度的霍尔器件测试方案。

为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，本发明提供一种霍尔器件测试系统，其特征在于，其包括：线圈；与所述线圈电性相连的线圈控制组件，其被配置的控制流过所述线圈的电流的大小变化，以使得所述线圈产生磁场强度变化的磁场；临近所述线圈固定设置的测试座，其中待测试霍尔器件被放置于所述测试座上；与放置于所述测试座上的待测试霍尔器件电性相连的感应检测模块，其被配置的获取待测试霍尔器件的感应信号值；与所述线圈控制组件电性连接的控制器，其被配置的控制所述线圈控制组件；与所述控制器电性相连的存储器，其被配置的存储参考数据。

在一个进一步的实施例中，在所述线圈控制组件控制流过所述线圈的电流的大小变化过程中，在所述感应检测模块得到的所述感应信号值越过或等于预定阈值时，将此时反应所述线圈的电流大小的物理参数与所述参考数据进行比对，以得到待测试霍尔器件的测试结果。

在一个进一步的实施例中，所述线圈控制组件还控制流过所述线圈的电流的方向，所述线圈控制组件控制沿第一方向流过所述线圈的电流的从小到大变化，在所述感应检测模块得到的所述感应信号值大于或等于所述预定阈值时，将此时反应所述线圈的电流大小的物理参数与所述参考数据进行比对，以得到待测试霍尔器件的第一测试结果参数；所述线圈控制组件控制沿第一方向流过所述线圈的电流的从大到小变化，在所述感应检测模块得到的所述感应信号值小于或等于所述预定阈值时，将此时反应所述线圈的电流大小的物理参数与所述参考数据进行比对，以得到待测试霍尔器件的第二测试结果参数；所述线圈控制组件控制沿第一方向的反方向流过所述线圈的电流的从小到大变化，在所述感应检测模块得到的所述感应信号值大于或等于所述预定阈值时，将此时反应所述线圈的电流大小的物理参数与所述参考数据进行比对，以得到待测试霍尔器件的第三测试结果参数；所述线圈控制组件控制沿第一方向的反方向流过所述线圈的电流的从大到小变化，在所述感应检测模块得到的所述感应信号值小于或等于所述预定阈值时，将此时反应所述线圈的电流大小的物理参数与所述参考数据进行比对，以得到待测试霍尔器件的第四测试结果参数。

在一个进一步的实施例中，所述参考数据包括：多个参数已知的标准霍尔器件在输出为预定阈值时对应的反应所述线圈的电流大小的物理参数的值。

在一个进一步的实施例中，所述感应检测模块得到的感应信号值是感应电压值或感应电流值。

在一个进一步的实施例中，所述线圈控制组件包括可控电流源和电流方向控制单元，所述可控电流源给所述线圈提供大小可控的电流；所述电流方向控制单元用于控制流过所述线圈的电流的流向。

在一个进一步的实施例中，所述可控电流源为直流-直流可控电流源，通过调整脉宽调制信号的占空比来控制所述可控电流源提供的电流的大小，反应所述线圈的电流大小的物理参数为所述脉宽调制信号的占空比的值。