[发明专利]一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010072007.X 申请日: 2020-01-21
公开(公告)号: CN111123187B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 王耀利;黄晓龙;李孟委;王志斌;张鹏 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R33/09
代理公司: 太原荣信德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14119 代理人: 杨凯;连慧敏
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明属于标定测试技术领域,具体涉及一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法,包括磁阻芯片场强检测系统、强电磁辐射产生装置,磁阻芯片场强检测系统包括磁阻探头检测模块、电源模块、示波器,所述强电磁辐射产生装置包括射频信号源、波同转换器、双脊形波导,双脊形波导的两端分别连接有波同转换器,磁阻探头检测模块设置在双脊形波导的内部,射频信号源通过波同转换器与双脊形波导连接,磁阻探头检测模块通过导线分别与电源模块、示波器连接。本发明通过射频信号源施加激励信号,可在双脊形波导内部产生电磁场,适合隧道磁阻芯片在宽频带范围内进行标定,并且场强可以在一定范围内保持均匀。本发明用于磁阻芯片的标定测试。
搜索关键词: 一种 基于 脊形波导 磁阻 芯片 标定 测试 系统 方法
【主权项】:
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