[发明专利]电子元器件的自动检测装置在审

专利信息
申请号: 202010045598.1 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111220212A 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 刘博;潘磊;雷利军 申请(专利权)人: 深圳市蓝眼科技有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;B07C5/36;B07C5/38;B65B69/00
代理公司: 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 代理人: 陈媛
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种自动检测装置,用于自动检测包覆有封装膜的电子元器件,所述自动检测装置包括:撕膜模块,用于撕开封装膜以将电子元器件露出;检测模块,用于检测电子元器件;传输模块,用于将电子元器件自撕膜模块传输至检测模块。本自动检测装置采用撕膜模块自动撕开封装膜,并使用检测模块自动对电子元器件进行检测,且通过设置传输模块实现了对电子元器件的自动传输,节省了人力成本,提升了检测效率,且检测结果更为精准。
搜索关键词: 电子元器件 自动检测 装置
【主权项】:
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