[发明专利]具有颗粒水平检测系统的颗粒烤架及相关方法在审
| 申请号: | 202010010367.7 | 申请日: | 2020-01-06 | 
| 公开(公告)号: | CN111493681A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 | 
| 发明(设计)人: | D·阿尔滕里特 | 申请(专利权)人: | 特雷格佩列特烤架有限公司 | 
| 主分类号: | A47J37/06 | 分类号: | A47J37/06;G01B7/14;G01B11/14;G01G3/14;G01G17/04;G01N15/00;G01N29/024;G01S17/48 | 
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;赵永莉 | 
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | 一种颗粒烤架,包括被配置为检测颗粒烤架的料斗中的至少一个颗粒水平的检测系统。该检测系统可以包括被配置为检测颗粒烤架的料斗中的至少一种状况的至少一个传感器。该检测系统可以可选地包括被配置为向用户通知颗粒烤架的料斗中的至少一个颗粒水平的通信模块。 | ||
| 搜索关键词: | 具有 颗粒 水平 检测 系统 烤架 相关 方法 | ||
【主权项】:
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