[发明专利]具有颗粒水平检测系统的颗粒烤架及相关方法在审
| 申请号: | 202010010367.7 | 申请日: | 2020-01-06 |
| 公开(公告)号: | CN111493681A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
| 发明(设计)人: | D·阿尔滕里特 | 申请(专利权)人: | 特雷格佩列特烤架有限公司 |
| 主分类号: | A47J37/06 | 分类号: | A47J37/06;G01B7/14;G01B11/14;G01G3/14;G01G17/04;G01N15/00;G01N29/024;G01S17/48 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;赵永莉 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 颗粒 水平 检测 系统 烤架 相关 方法 | ||
1.一种颗粒烤架,所述颗粒烤架包括:
主烧烤腔;
料斗,所述料斗被配置为在颗粒燃料燃烧之前容纳所述颗粒燃料;以及
检测系统,所述检测系统被配置为检测所述颗粒烤架的所述料斗中的至少一个颗粒水平。
2.根据权利要求1所述的颗粒烤架,进一步包括:
火炉,所述火炉被配置为容纳燃烧的所述颗粒燃料;以及
螺旋输送器,所述螺旋输送器将所述颗粒燃料从所述料斗输送到所述火炉。
3.根据权利要求1所述的颗粒烤架,其中所述料斗包括盖。
4.根据权利要求3所述的颗粒烤架,其中所述检测系统被配置为当所述盖被关闭时检测所述颗粒烤架的所述料斗中的所述至少一个颗粒水平。
5.根据权利要求1所述的颗粒烤架,其中所述检测系统包括至少一个传感器,所述至少一个传感器被配置为检测所述颗粒烤架中的至少一种状况。
6.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述检测系统包括位于所述料斗内的至少一个光发射装置,并且所述至少一个传感器包括至少一个光传感器,所述至少一个光传感器被配置为检测由所述至少一个光发射装置发射的光。
7.根据权利要求6所述的颗粒烤架,其中配置所述至少一个光发射装置和所述至少一个传感器,使得当所述颗粒燃料的水平等于或高于所述料斗中的所述至少一个颗粒水平时,所述料斗内的所述颗粒燃料将防止由所述至少一个光发射装置发射的光入射在所述至少一个传感器上,并且使得当所述颗粒燃料的水平低于所述料斗中所述至少一个颗粒水平时,所述至少一个光发射装置发出的光入射在所述至少一个传感器上。
8.根据权利要求6所述的颗粒烤架,其中所述检测系统包括至少两个光发射装置,所述至少两个光发射装置被配置为发射不同波长的光,并且其中所述至少一个传感器被定位并被配置为检测由所述至少两个光发射装置发射的光。
9.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括位于所述料斗内的激光测距仪。
10.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括光电检测器,所述光电检测器位于所述料斗内并且被配置为当所述料斗内的所述颗粒燃料的水平下降到所述光电检测器以下时,检测入射在所述光电检测器上的光。
11.根据权利要求10所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括位于所述料斗内的不同水平处的多个光电检测器,所述多个光电检测器中的每一个光电检测器被配置为当所述料斗内的所述颗粒燃料的水平下降到相应光电检测器以下时,检测入射在所述相应光电检测器上的光。
12.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括被配置为对所述料斗中的所述颗粒燃料称重的重量传感器。
13.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括电容传感器、电阻传感器或机械开关传感器。
14.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括照相机。
15.根据权利要求5所述的颗粒烤架,其中所述至少一个传感器包括声音传感器。
16.根据权利要求1所述的颗粒烤架,其中所述检测系统包括通信模块,所述通信模块被配置为向用户通知所述颗粒烤架的所述料斗中的所述至少一个颗粒水平。
17.一种检测颗粒烤架的料斗中的至少一个颗粒水平的方法,所述方法包括使用传感器检测所述料斗中的所述至少一个颗粒水平。
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