[发明专利]缓解忆阻器交叉阵列中潜通路影响的方法及相关设备有效

专利信息
申请号: 202010003662.X 申请日: 2020-01-03
公开(公告)号: CN111144058B 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 邱柯妮;朱玉洁;赵雪;夏立雪 申请(专利权)人: 首都师范大学
主分类号: G06F30/3308 分类号: G06F30/3308;G06F30/36;G11C5/14
代理公司: 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 代理人: 岳凤羽
地址: 100089 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种缓解忆阻器交叉阵列中潜通路影响的方法及相关设备,应用于计算机与电子信息技术领域,其中,获取忆阻器交叉阵列的输入电压;计算所述忆阻器交叉阵列中的潜通路引起的电流误差值;根据所述潜通路引起的电流误差值对所述输入电压进行调整,以降低所述潜通路引起的电流误差值。如此,只需调整忆阻器交叉阵列中的输入电压,便可以降低所述潜通路引起的电流误差值,调整了潜通路引起的误差损失,不必在忆阻器交叉阵列中再次添加新的设备,从而,不必改变忆阻器交叉阵列的制造工艺。
搜索关键词: 缓解 忆阻器 交叉 阵列 通路 影响 方法 相关 设备
【主权项】:
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