[发明专利]以处理器为核心的电路时序测量方法和装置有效
| 申请号： | 202010000764.6 | 申请日： | 2020-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN111241764B | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 高洁;彭飞;田文波;孙逸帆;李毅;刘骁 | 申请（专利权）人： | 上海航天计算机技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/3312 | 分类号： | G06F30/3312;G06C3/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种以处理器为核心的电路时序测量方法和装置，该方法包括：确定以处理器为核心的电路访存关系，列出连接器件的输入输出管脚表；根据管脚表，确定信号传输链路径测量点；对路径测量点进行分析，得到信号特性列表；获得各个器件与时序相关的端点信号数据；将端点信号数据与器件手册数据比对，得到时序分析结果。本发明可以在不完全测试的情况下，将信号因传输链路造成的变性引入测量中，将测量和分析结果相结合，获得最接近于完全测量的信号，可以用于分析电路的时序是否满足器件手册的时序关系，适用于无法直接在器件管脚测量全部电路信号特性的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 核心 电路 时序 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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