[发明专利]色谱仪质量分析装置在审

专利信息
申请号: 201980094747.9 申请日: 2019-06-20
公开(公告)号: CN113646626A 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 前田一真 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N30/72;G01N30/86
代理公司: 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 代理人: 杨楷;毛立群
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种色谱仪质量分析装置,具备:分离试样中的成分的色谱仪部(LC部1);针对通过该色谱仪部按时间分离的各化合物,执行对于源自该化合物的具有特定的质荷比的离子的质量分析的质量分析装置(MS部2),在该色谱仪质量分析装置中具备:分析条件设定部(30),使用户输入色谱图上的峰的宽度作为分析参数之一;数据点数信息存储部(311),提前存储与一个峰对应的适当的数据点数的信息;采样时间间隔计算部(312),根据输入的峰宽度和数据点数信息,计算获取用于创建色谱图的数据的时间点即采样时间间隔;分析控制部(32),以按照采样时间间隔在所述质量分析装置中获取离子强度的方式,控制该质量分析装置的动作。
搜索关键词: 色谱仪 质量 分析 装置
【主权项】:
暂无信息
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