[发明专利]色谱仪质量分析装置

说明书

本发明涉及一种色谱仪质量分析装置，具备：分离试样中的成分的色谱仪部(LC部1)；针对通过该色谱仪部按时间分离的各化合物，执行对于源自该化合物的具有特定的质荷比的离子的质量分析的质量分析装置(MS部2)，在该色谱仪质量分析装置中具备：分析条件设定部(30)，使用户输入色谱图上的峰的宽度作为分析参数之一；数据点数信息存储部(311)，提前存储与一个峰对应的适当的数据点数的信息；采样时间间隔计算部(312)，根据输入的峰宽度和数据点数信息，计算获取用于创建色谱图的数据的时间点即采样时间间隔；分析控制部(32)，以按照采样时间间隔在所述质量分析装置中获取离子强度的方式，控制该质量分析装置的动作。

技术领域

本发明涉及气相色谱仪质量分析装置(GC-MS)、液相色谱仪质量分析装置(LC-MS)等将色谱仪和质量分析计组合的色谱仪质量分析装置。

背景技术

为了进行试样中的多种成分的定性、定量，以往广泛利用液相色谱仪(LC)、气相色谱仪(GC)等色谱仪。在一般的液相色谱仪中，使用光电二极管阵列检测器等光学检测器作为检测器，而近年来，利用将多个化合物的分离性能更高的四极型质量分析计等质量分析计和液相色谱仪组合的液相色谱仪质量分析装置来代替通常的液相色谱仪的情况较多。

一般来说，在利用色谱仪质量分析装置进行目标化合物的定量的情况下，在包含被推定为目标化合物从色谱仪的色谱柱洗脱并导入至质量分析计的保留时间的规定的测量时间范围内，反复进行SIM(选择离子监测)测量，该SIM测量选择性地检测具有与该目标化合物对应的质荷比(m/z)的离子。

在试样中包含目标化合物的情况下，在基于通过以与该目标化合物对应的质荷比为对象的反复进行的SIM测量而得到的离子强度信号而创建的色谱图(提取离子色谱图)中，出现与目标化合物对应的大致呈山形状的峰。该峰的面积反映了目标化合物的量或浓度。因此，计算色谱图上的峰的面积，使该面积值与预先创建的校准曲线对照，计算定量值。

为了在上述那样的数据处理中提高定量的精度，需要正确地求出峰面积。因此，需要色谱图中峰的形状的正确性较高。一般来说，通过以一定的时间间隔而得到的数据(离子强度值数据)来形成色谱图波形，若构成一个峰的数据的点数较少，则该峰的波形形状的精度降低(参照专利文献1等)。换言之，为了提高定量精度，需要提高色谱图上的峰波形的形状的正确性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-132799号公报

专利文献2：国际公开第2015/029101号册子

发明内容

发明要解决的技术问题

如果缩短获取数据的时间间隔(以下称为“采样时间间隔”)，则峰波形形状的正确性提高，但是如果使采样时间间隔变短，则相应地与源自测量对象化合物的离子对应的数据驻留时间(Dwell Time)变短，因此导致检测灵敏度降低。这样，采样时间间隔或每单位时间的数据点数是关乎分析性能的重要参数之一。

对此，以往已知有用户能够预先将采样率即每1秒的数据点数设定为参数之一的色谱仪质量分析装置。也如专利文献1所记载的那样，一般来说，为了得到充分的峰面积再现性，1个峰需要10点水平以上的数据点数。因此，用户只要考虑到这样的情况来决定适当的采样率，并将该值作为参数输入即可。

然而，与采样时间间隔同样地，采样率是视觉上或直观上难以理解的参数。因此，若不是一定程度理解质量分析装置中的数据处理的技术内容的操作员，则存在难以设定适当的值、或易于产生设定失误这样的问题。

本发明是为了解决这样的技术问题而完成的，其目的在于提供一种色谱仪质量分析装置，减轻进行色谱仪质量分析时设定分析条件的作业负担，而且特别是即使操作员几乎不具有色谱仪质量分析相关的知识、经验也能够比较简便且没有失误地进行参数设定。