[发明专利]单晶X射线结构解析装置和用于其的方法在审
| 申请号： | 201980088745.9 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113287004A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/10;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种迅速地进行基于细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、使得包括关联信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法。单晶X射线结构解析装置具备：X射线源，产生X射线；试样保持架，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；测角仪，安装并转动试样保持架；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架中所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线进行试样的结构解析；信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的不变信息或者试样的吸藏以后的可变信息；以及信息保存部(111)，保存在信息取得部(600)取得的不变信息或者可变信息。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 用于 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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