[发明专利]单晶X射线结构解析装置用试样保持架组件在审
| 申请号： | 201980088744.4 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113287003A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏、迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架组件。所述试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线结构解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；以及试样导入结构，形成于基台部，导入用于使细孔性络合物结晶吸藏的试样，敷料器(300)具备：收纳试样保持架的收纳空间以及开口部(302)；密封部(304)，设置在与收纳于收纳空间的试样保持架的接触面；以及防脱部(305)，与收纳于收纳空间的试样保持架卡合，阻止试样保持架从开口部(302)的脱出。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 试样 保持 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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