[发明专利]单晶X射线结构解析装置用试样保持架组件

权利要求书

1.一种试样保持架组件，由在单晶X射线结构解析装置中使用的试样保持架、和收纳所述试样保持架的敷料器构成，其特征在于，

所述试样保持架具备：

基台部，安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪；

保持部，形成于所述基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；以及

试样导入结构，形成于所述基台部，导入用于使所述细孔性络合物结晶吸藏的所述试样，

所述敷料器具备：

收纳所述试样保持架的收纳空间以及开口部；

密封部，设置于与收纳于所述收纳空间的所述试样保持架的接触面；以及

防脱部，与收纳于所述收纳空间的所述试样保持架卡合，阻止所述试样保持架从所述开口部的脱出。

2.根据权利要求1所述的试样保持架组件，其中，

所述试样导入结构由将所述基台部从组件外侧贯通到内侧的试样导入管构成，

所述防脱部是在卡合位置不妨碍所述试样保持架的所述试样导入管的形状。

3.根据权利要求1或者2所述的试样保持架组件，其中，

所述防脱部由突出到所述敷料器的开口部而阻止所述试样保持架的脱出的旋转杆构成。

4.根据权利要求1或者2所述的试样保持架组件，其中，

所述防脱部是进行滑动以使得突出到所述敷料器的开口部来阻止所述试样保持架的脱出的形状。

5.根据权利要求4所述的试样保持架组件，其中，

所述防脱部在与所述试样保持架卡合的滑动面的前端具有倾斜面。

6.根据权利要求4或者5所述的试样保持架组件，其中，

所述敷料器在其两侧部具有一对平行的导轨，

所述防脱部与所述导轨卡合地进行滑动。

7.根据权利要求4或者5所述的试样保持架组件，其中，

所述敷料器在其两侧部具有一对平行的导轨，

所述防脱部具有与所述导轨卡合地进行滑动的卡合部，

所述导轨以及所述卡合部分别形成为截面“コ”字型。