[发明专利]光学器件测试方法和装置有效
申请号: | 201980087649.2 | 申请日: | 2019-01-20 |
公开(公告)号: | CN113272694B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 莉亚·洛巴钦斯基;耶谢·丹齐格;尼灿·利夫内 | 申请(专利权)人: | 鲁姆斯有限公司 |
主分类号: | G02B6/10 | 分类号: | G02B6/10;G01M11/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 唐京桥;杨林森 |
地址: | 以色列耐*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在眼睛运动盒(EMB)中的各个位置处,可以捕获并且分析来自光学器件的输出图像以检测和评估经由光学器件的图像传播。沿特定轴的光学测试可以评估跨小平面的有效区域的光学引擎传递函数一致性,检测来自光学器件的投影图像的“拖尾”的存在和程度,以及检测与楔形物至LOE界面中的散射和衍射有关的“白色条纹”(WS)现象的存在和程度。可以得到各种度量以用于质量控制和反馈到生产系统中,以及用于光学器件的布置。 | ||
搜索关键词: | 光学 器件 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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