[发明专利]通过透射盖使用光学飞行时间技术进行深度感测在审
| 申请号： | 201980075120.9 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN113039457A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | P.赫格德;T.科根;道格.尼尔逊;D.帕特森 | 申请（专利权）人： | ams传感器新加坡私人有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/36 | 分类号： | G01S17/36;G01S17/894;G01S7/481;G01S7/497;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邓亚楠 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于动态确定来自透射盖的反射的强度并中和它的技术，以改善深度测量的准确性。获得多个频率下的光调制的深度测量–其也可以被用于深度消歧–并将其用于对信息进行解耦以估计由透射盖本身或透射盖上的污迹反射的信号的强度以及由目标对象反射的信号的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 透射 使用 光学 飞行 时间 技术 进行 深度 | ||
【主权项】：
暂无信息
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