[发明专利]通过透射盖使用光学飞行时间技术进行深度感测

权利要求书

1.一种方法，包括：

以第一调制频率从模块发射光并且以第二调制频率发射光，所述光通过透射盖朝着目标发射；

响应于以所述第一调制频率发射的光而测量表示由所述目标反射的光学信号和由所述透射盖反射的光学信号的组合的第一幅度和相移值；

响应于以所述第二调制频率发射的光而测量表示由所述目标反射的光学信号和由所述透射盖反射的光学信号的组合的第二幅度和相移值；并且

使用处理电路估计由所述透射盖反射的光学信号的幅度和由所述透射盖反射的光学信号的幅度，其中所述估计至少部分地基于测量的第一及第二幅度和相移值并且基于在所述模块的校准期间获得的相移值。

2.如权利要求1所述的方法，其中在所述模块的校准期间获得的所述相移值分别表示由所述透射盖反射的光学信号的相移值和由目标反射的光学信号的相移值。

3.如权利要求1-2中的任一项所述的方法，其中由所述透射盖反射的光学信号中的每一个包括由所述透射盖本身反射的光学信号或由所述透射盖上的污迹反射的光学信号中的至少一个。

4.如权利要求1-3中的任一项所述的方法，其中估计包括针对四个未知变量的值求解四个非线性方程式。

5.如权利要求4所述的方法，其中估计包括使用迭代过程。

6.如权利要求4所述的方法，其中估计包括使用梯度下降。

7.如权利要求1-6中的任一项所述的方法，还包括响应于估计的值中的一个或多个而调整其中部署有所述模块的主机设备的特性。

8.如权利要求1-6中的任一项所述的方法，还包括响应于估计的值中的一个或多个而调整显示屏的亮度。

9.如权利要求1-6中的任一项所述的方法，还包括：

基于由所述透射盖反射的所述光学信号的所述幅度的估计的值，确定所述透射盖上可能有污迹，并且

响应于确定所述透射盖上可能有污迹，使得生成警报。

10.如权利要求9所述的方法，其中所述警报指示所述透射盖应当被清洁以去除其表面上的污染。

11.一种装置，包括：

透射盖；

存储器，其存储校准阶段相移值；

光发射器，其能够操作以便以第一调制频率从模块发射光并且能够操作以便以第二调制频率发射光，所述光通过所述透射盖朝着目标发射；

深度相机，其能够操作以响应于以所述第一调制频率发射的光而测量表示由所述目标反射的光学信号和由所述透射盖反射的光学信号的组合的第一幅度和相移值，深度相机还能够操作以响应于以所述第二调制频率发射的光而测量表示由所述目标反射的光学信号和由所述透射盖反射的光学信号的组合的第二幅度和相移值；以及

处理电路，其能够操作以估计由所述透射盖反射的光学信号的幅度和由所述透射盖反射的光学信号的幅度，所述估计至少部分地基于测量的第一及第二幅度和相移值并且基于校准阶段相移值。

12.如权利要求11所述的装置，其中所述校准阶段相移值分别表示由所述透射盖反射的光学信号的相移值和由目标反射的光学信号的相移值。

13.如权利要求11至12中的任一项所述的装置，其中由所述透射盖反射的光学信号中的每一个包括由所述透射盖本身反射的光学信号或由所述透射盖上的污迹反射的光学信号中的至少一个。

14.如权利要求11至13中的任一项所述的装置，其中所述处理电路能够操作以通过针对四个未知变量的值求解四个非线性方程式来执行估计。

15.如权利要求14所述的装置，其中处理电路能够操作以使用迭代过程来执行估计。