[发明专利]半导体用膜状黏合剂、半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201980070535.7 申请日: 2019-11-15
公开(公告)号: CN113169141A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 林出明子;秋吉利泰;茶花幸一 申请(专利权)人: 昭和电工材料株式会社
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;C09J133/00;C09J163/00;C09J171/10;C09J175/04;C09J201/00;H01L21/52;H01L21/60;H01L21/301;C09J7/35
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 白丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体用膜状黏合剂(1),具备:第1热固化性黏合剂层(2);以及第2热固化性黏合剂层(3),设置于第1热固化性黏合剂层(2)上,其中,第1热固化性黏合剂层(2)含有Tg小于35℃的第1热塑性树脂,第2热固化性黏合剂层(3)含有Tg为35℃以上的第2热塑性树脂。
搜索关键词: 半导体 用膜状 黏合剂 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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