[发明专利]异常判定方法和自动分析装置在审
| 申请号： | 201980056252.7 | 申请日： | 2019-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN112955749A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 为实秀人;西田正治 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 邓晔;宋俊寅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种设定用于检测自动分析装置的异常的更适当的判断基准的技术。本实施方式的异常判定方法生成自动分析装置中的用于判定含有试料和试剂的反应液的反应过程有无异常的判定基准并用该判定基准来进行异常判定，包含执行规定的运算的处理器获取反应液的反应过程中的多个测定数据的获取条件；上述处理器获取由分光检测器检测并与获取条件一致的多个测定数据；该处理器计算多个测定数据的特征量；上述处理器基于多个测定数据的特征量生成判定基准；上述处理器将判定对象的测定数据的特征量与所述判定基准进行比较来判定反应过程有无异常。并且，上述获取条件至少包含测定值范围的分割数量的信息和每个分割区间的数据数量的信息(参照图1)。 | ||
| 搜索关键词： | 异常 判定 方法 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术，未经株式会社日立高新技术许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980056252.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
