[发明专利]异常判定方法和自动分析装置在审

专利信息
申请号: 201980056252.7 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN112955749A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 为实秀人;西田正治 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 邓晔;宋俊寅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 异常 判定 方法 自动 分析 装置
【权利要求书】:

1.一种异常判定方法,

该异常判定方法在自动分析装置中生成用于判定含有试料和试剂的反应液的反应过程有无异常的判定基准,并用该判定基准判定异常,该异常判定方法的特征在于,包含:

执行规定的运算的处理器获取反应液的反应过程中的多个测定数据的获取条件;

所述处理器获取由分光检测器检测并与所述获取条件一致的多个测定数据;

所述处理器计算所述多个测定数据的特征量;

所述处理器基于所述多个测定数据的特征量生成所述判定基准;以及

所述处理器将判定对象的测定数据的特征量与所述判定基准进行比较来判定反应过程有无异常,

所述获取条件至少包含测定值范围的分割数量的信息和每个分割区间的数据数量的信息。

2.如权利要求1所述的异常判定方法,其特征在于,

所述获取条件还包含在所述测定值范围内获取的数据数量的信息和数据的获取期限的信息。

3.如权利要求1所述的异常判定方法,其特征在于,

还包含提供用户界面,该用户界面能选择所述处理器是根据存储在存储装置中的现有数据组生成所述判定基准、或/和根据在设定所述获取条件之后获取的测定数据组生成所述判定基准。

4.如权利要求1所述的异常判定方法,其特征在于,

所述处理器计算满足所述获取条件的所述多个测定数据的特征量组的平均值和标准偏差值,并用它们生成所述判定基准。

5.如权利要求1所述的异常判定方法,其特征在于,

所述处理器生成表示满足所述获取条件的所述多个测定数据的特征量组中的至少两个特征量的相关性的分布,生成表示该分布的回归函数,并且基于该回归函数的曲线生成所述判定基准。

6.如权利要求5所述的异常判定方法,其特征在于,

所述处理器从0次函数、1次函数、2次函数、对数函数和指数函数中选择表示示出所述至少两个特征量的相关性的分布的所述回归函数。

7.如权利要求6所述的异常判定方法,其特征在于,

所述处理器将针对所有所述回归函数而求出的赤池信息量基准进行比较,并使用赤池信息量基准为最小的回归函数来生成所述判定基准。

8.如权利要求1所述的异常判定方法,其特征在于,

还包含在判定为所述反应过程中有异常时,所述处理器使警告显示在显示装置上。

9.一种自动分析装置,该自动分析装置是用于定性或定量分析检体的自动分析装置,其特征在于,包括:

分光检测器,该分光检测器用光照射容纳在反应容器中的反应液来获取所述反应液的反应过程中的多个测定数据,所述反应容器使试料和试剂混合并反应;

存储设备,该存储设备存储用于分析检体的各种程序;以及

处理器,该处理器从所述存储设备读取所述各种程序,并基于该各种程序对所述多个测定数据执行规定的运算,

所述处理器执行:

获取在包含试料和试剂的反应液的反应过程中的多个测定数据的获取条件的处理;

获取由所述分光检测器检测并与所述获取条件一致的多个测定数据的处理;

计算所述多个测定数据的特征量的处理;

基于所述多个测定数据的特征量生成用于判定所述反应液的反应过程有无异常的判定基准的处理;以及

通过将判定对象的测定数据的特征量与所述判定基准进行比较来判定反应过程有无异常的处理,

所述获取条件至少包含测定值范围的分割数量的信息和每个分割区间的数据数量的信息。

10.如权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,

所述获取条件还包含在所述测定值范围内获取的数据数量的信息和数据的获取期限的信息。

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