[发明专利]氮化物半导体基板、氮化物半导体基板的制造方法和层叠结构体有效
申请号: | 201980056200.X | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN112639178B | 公开(公告)日: | 2022-10-14 |
发明(设计)人: | 吉田丈洋 | 申请(专利权)人: | 赛奥科思有限公司;住友化学株式会社 |
主分类号: | C30B29/38 | 分类号: | C30B29/38;C30B23/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种氮化物半导体基板,其具有2英寸以上的直径,且具有最近的低指数晶面为(0001)面的主面,隔着Ge(220)面的双晶单色器和狭缝对主面照射Cu的Kα1的X射线,进行(0002)面衍射的X射线摇摆曲线测定时,将狭缝的ω方向的宽度设为0.1mm时的(0002)面衍射的半值宽度FWHMb为32arcsec以下,从将狭缝的ω方向的宽度设为1mm时的(0002)面衍射的半值宽度FWHMa减去FWHMb而得到的差值FWHMa‑FWHMb为FWHMa的30%以下。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 制造 方法 层叠 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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