[发明专利]具有校正特征的光均质化元件在审

专利信息
申请号: 201980043771.X 申请日: 2019-06-14
公开(公告)号: CN112352203A 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: J·M·科布;P·F·米开罗斯基;D·M·斯塔洛夫 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B27/09
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 汪骏飞;侯颖媖
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 描述了光均质化元件。光均质化元件包括具有校正特征的透镜阵列,该校正特征被设计成改善由光源产生的光场的均匀度。校正特征包括放置在透镜阵列中的所选小透镜的所选位置处的掩模。校正特征阻挡或减少穿过该所选位置处的透镜阵列的光的透射,以校正由光源产生的光场中的空间或角度不均匀性。包括耦合至光源的经校正透镜阵列的照明系统产生高度均匀的光场。应用包括微光刻。
搜索关键词: 具有 校正 特征 光均质化 元件
【主权项】:
暂无信息
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