[发明专利]电容式测量中补偿温度影响的方法在审
| 申请号： | 201980034306.X | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN112154304A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | B·安蒂;H·吉伦斯;C·乌里格;C·文德;L·希尔莱;D·J·托马斯;J·利普塔克 | 申请（专利权）人： | IEE国际电子工程股份公司 |
| 主分类号： | G01D5/24 | 分类号： | G01D5/24;G01D18/00;G01D3/032 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜 |
| 地址： | 卢森堡埃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
描述了一种操作用于温度影响的补偿的电容式测量系统(10)的方法。电容式测量系统(10)包括处于安装状态的至少一个电容式传感器构件(12)和用于根据通过至少一个电容式传感器构件(12)的复感测电流确定未知电容的复阻抗的电容式测量电路(14)。在该方法中，执行校准测量以获得所确定的阻抗的实部和虚部两者的温度特性(42、44)。在随后的在当前温度(T |
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| 搜索关键词： | 电容 测量 补偿 温度 影响 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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