[发明专利]用于粒子的质谱分析的装置和方法在审
| 申请号： | 201980030202.1 | 申请日： | 2019-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN112074927A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 拉尔夫·齐默尔曼;约翰内斯·帕西格;斯文·埃勒特 | 申请（专利权）人： | 健康与环境慕尼黑德国研究中心赫姆霍茨中心(有限公司);相片技术有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04;H01J49/16 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 谭营营;王朝辉 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于粒子的质谱分析的装置和对应的方法，所述装置包括：第一辐照单元(4)，所述第一辐照单元(4)被配置为利用电磁辐射辐照粒子(1)以使粒子(1)的成分从粒子(1)分离，特别是解吸、消融和/或蒸发，粒子(1)的分离的成分(2)位于粒子(1)的残留芯(3)的附近；第二辐照单元(14‑16、19)，所述第二辐照单元(14‑16、19)被配置为基本上同时地利用电磁辐射的第一射束(17)辐照i)分离的成分(2)的至少一部分、以及可选地粒子(1)的残留芯(3)，以引起分离的成分(2)的至少一部分的电离，并且利用电磁辐射的第二射束(18)辐照ii)粒子(1)的残留芯(3)的至少一部分，以引起粒子(1)的残留芯(3)的成分的至少一部分的电离，电磁辐射的第一射束(17)表现出第一强度，电磁辐射的第二射束(18)表现出第二强度，第二强度优选地大于第一强度；以及质谱仪，所述质谱仪包括离子源区域(5)、第一检测通道(6)、以及可选地第二检测通道(9)，离子源区域(5)被配置为容纳分离的成分(2)和/或残留芯(3)的成分的正离子(+)和/或负离子(‑)，第一检测通道(6)被配置为检测正离子(+)，第二检测通道(9)被配置为检测负离子(‑)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 粒子 谱分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于健康与环境慕尼黑德国研究中心赫姆霍茨中心(有限公司);相片技术有限公司，未经健康与环境慕尼黑德国研究中心赫姆霍茨中心(有限公司);相片技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980030202.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
