[发明专利]抛光半导体晶片的方法有效
申请号: | 201980011767.5 | 申请日: | 2019-02-05 |
公开(公告)号: | CN111683792B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | A·海尔迈尔;V·杜奇克;L·米斯图尔;T·奥尔布里希;D·迈尔;V·吴 | 申请(专利权)人: | 硅电子股份公司 |
主分类号: | B24B37/08 | 分类号: | B24B37/08 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 过晓东 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种抛光半导体晶片的方法,该半导体晶片在分别覆盖有抛光垫(21、22)的上抛光板(11)和下抛光板(12)之间的正面和背面的两面上被同时抛光,其中抛光间隙(x |
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搜索关键词: | 抛光 半导体 晶片 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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