[发明专利]抛光半导体晶片的方法有效

专利信息
申请号: 201980011767.5 申请日: 2019-02-05
公开(公告)号: CN111683792B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: A·海尔迈尔;V·杜奇克;L·米斯图尔;T·奥尔布里希;D·迈尔;V·吴 申请(专利权)人: 硅电子股份公司
主分类号: B24B37/08 分类号: B24B37/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 过晓东
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种抛光半导体晶片的方法,该半导体晶片在分别覆盖有抛光垫(21、22)的上抛光板(11)和下抛光板(12)之间的正面和背面的两面上被同时抛光,其中抛光间隙(x1+x2)在抛光方法期间其尺寸分阶段变化或连续可变,所述抛光间隙对应于在抛光垫(21、22)的内边缘(B)处和外边缘(A)处与所述半导体晶片接触的上抛光垫(21)和下抛光垫(22)的那些表面之间的相应距离之差。
搜索关键词: 抛光 半导体 晶片 方法
【主权项】:
暂无信息
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