[实用新型]一种处理器芯片表面温度测试装置有效
| 申请号： | 201922178176.7 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN212059994U | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 程鹏;杨晓君;杨帆;孙浩天;刘新春 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 祁献民 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型实施例公开一种处理器芯片表面温度测试装置，涉及芯片测试技术领域，为便于单独对处理器芯片单一本体进行高低温测试而发明。所述测试装置，包括：测试仓、载台和温控头机械臂；所述载台位于所述测试仓内的底部位置；所述温控头机械臂，为可移动机械臂，位于所述测试仓内的顶部位置，与所述载台相对应，用于固定温控头。本实用新型适用于芯片表面温度测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 处理器 芯片 表面温度 测试 装置 | ||
【主权项】：
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