[实用新型]一种基于双光路的X射线成像探测装置有效

专利信息
申请号: 201921767116.2 申请日: 2019-10-21
公开(公告)号: CN210863592U 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 黎刚;王艳萍;张杰;易栖如;姜晓明 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所;中国科学院北京综合研究中心
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 马东伟
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种基于双光路的X射线成像探测装置,属于X射线成像技术领域,解决了现有技术中单光路大视场成像对相机像素数要求高的问题。该装置包括预处理组件、物镜、分光镜、第一管镜、第二管镜、第一相机和第二相机,所述第一管镜和第二管镜的结构参数相同,所述第一相机和第二相机的芯片尺寸及分辨率相同;携带样品信息的X射线垂直入射预处理组件,被吸收、转化为携带样品信息的可见光图像,所述携带样品信息的可见光图像发出的光线被物镜放大后经分光镜分光,再分别经第一管镜和第二管镜聚焦至第一相机和第二相机,得到双光路探测图像。本实用新型通过设计双光路成像降低了对相机高像素数的要求。
搜索关键词: 一种 基于 双光路 射线 成像 探测 装置
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