[实用新型]一种基于双光路的X射线成像探测装置有效
| 申请号: | 201921767116.2 | 申请日: | 2019-10-21 |
| 公开(公告)号: | CN210863592U | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
| 发明(设计)人: | 黎刚;王艳萍;张杰;易栖如;姜晓明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所;中国科学院北京综合研究中心 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 马东伟 |
| 地址: | 100049 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 双光路 射线 成像 探测 装置 | ||
1.一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,包括预处理组件、物镜、分光镜、第一管镜、第二管镜、第一相机和第二相机,所述第一管镜和第二管镜的结构参数相同,所述第一相机和第二相机的芯片尺寸及分辨率相同;
携带样品信息的X射线垂直入射预处理组件,被吸收、转化为携带样品信息的可见光图像,所述携带样品信息的可见光图像发出的光线被物镜放大后经分光镜分光,再分别经第一管镜和第二管镜聚焦至第一相机和第二相机,得到双光路探测图像。
2.根据权利要求1所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述预处理组件位于所述物镜的物方焦平面,且所述物镜的光轴垂直于所述预处理组件。
3.根据权利要求2所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述物镜的光轴垂直于所述第一管镜的光轴,并与第二管镜的光轴位于同一直线上。
4.根据权利要求3所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述分光镜为半反射半透射的分光棱镜。
5.根据权利要求4所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述分光镜与所述物镜的光轴、第一管镜的光轴和第二管镜的光轴夹角均为45°。
6.根据权利要求5所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述第一相机和第二相机的芯片分别位于第一管镜和第二管镜的像方焦平面,第一相机芯片的中心与第一管镜的光轴右侧存在偏移,第二相机芯片的中心与第二管镜的光轴下侧存在偏移。
7.根据权利要求6所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,偏移的距离由物镜物方视场大小以及物镜和管镜对可见光图像的放大倍数确定,所述偏移的距离为:
其中,f1为物镜的焦距、f2为第一管镜和第二管镜的焦距,D为物镜像物方视场的直径。
8.根据权利要求6所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述第一相机芯片和第二相机芯片尺寸大于物镜物方视场尺寸的
9.根据权利要求1所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述预处理组件包括碳膜、闪烁晶体和铅玻璃,所述碳膜位于所述闪烁晶体前侧,所述铅玻璃位于所述闪烁晶体后侧。
10.根据权利要求1所述的一种基于双光路的X射线成像探测装置,其特征在于,所述物镜的像方视场大于26mm。
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