[实用新型]具有新型复位结构的老化测试座有效
| 申请号： | 201921679859.4 | 申请日： | 2019-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN210982531U | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 杨晓华;石光普;史先映 | 申请（专利权）人： | 苏州英世米半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出了具有新型复位结构的老化测试座，包括配合使用的基座、基盖和转换板，通过在所述基座的第四侧壁外侧设置复位结构，利用杠杆原理，使其同时与转换板和基盖相互配合来替代现有老化座中的弹簧来实现复位，避免了弹簧生锈以及长时间使用而造成的复位力不足等问题，且减少了下压时对基盖的反作用力，可以满足测试设备同时下压多个基盖的要求，保证了测试质量，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 新型 复位 结构 老化 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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