[实用新型]具有新型复位结构的老化测试座

说明书

本实用新型提出了具有新型复位结构的老化测试座，包括配合使用的基座、基盖和转换板，通过在所述基座的第四侧壁外侧设置复位结构，利用杠杆原理，使其同时与转换板和基盖相互配合来替代现有老化座中的弹簧来实现复位，避免了弹簧生锈以及长时间使用而造成的复位力不足等问题，且减少了下压时对基盖的反作用力，可以满足测试设备同时下压多个基盖的要求，保证了测试质量，提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备领域，特别是涉及具有新型复位结构的老化测试座。

背景技术

在现有老化测试座中，在自动化植入芯片进行测试时，通过测试设备结构，下压老化测试座的基盖，通过基盖下压打开挤压器，将芯片放入老化测试座中，然后解除下压，基盖复位，随后即可对芯片进行测试。在整个机构运动过程中，基盖下压完成芯片植入后是通过老化测试座中的弹簧进行复位。

但老化测试座中的弹簧在加工制造过程中，每一根弹簧加工完成后的力不能保证完全相同，会有20％的误差；且在长时间使用后会不可避免的出现生锈现象；同时，随着弹簧使用次数的增加，弹簧相应出现疲劳现象，弹簧力也会比开始使用时相应减小。

此外，由于测试设备的下压力是固定值，如果需要同时下压较多的测试座基盖时，无法提供足够的下压力，在这种情况下，弹簧无法满足提供较小的复位力。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型提出了具有新型复位结构的老化测试座。

本实用新型的主要内容包括：

具有新型复位结构的老化测试座，包括配合使用的基座和基盖，所述基座和基盖之间设置有转换板；所述基盖为由相对设置的两个第一侧壁和相对设置的两个第二侧壁围成的框架结构；所述基座包括基座本体，所述基座本体具有相对设置的两个第三侧壁和相对设置的两个第四侧壁，所述转换板具有相对设置的两个第五侧壁；其中，所述第三侧壁具有与所述第一侧壁相配合的连接结构，所述第四侧壁上对称设置有两个复位结构，所述复位结构包括复位头部、复位本体和复位连接部，所述复位连接部通过复位轴杆转动连接在所述第四侧壁上；所述复位头部位于所述第二侧壁的下方；所述复位本体上设置有复位销轴，所述第五侧壁上设置有销轴凹槽，所述复位销轴的一端放置在所述销轴凹槽内。

优选的，所述第二侧壁包括第二内侧壁和第二外侧壁，所述第二外侧壁的高度大于所述第二内侧壁的高度，所述复位头部呈圆形，所述复位头部位于所述第二内侧壁的下方。

优选的，所述第四侧壁上开设有两个垂直向下延伸的导向凹槽，所述复位销轴的另一端沿所述导向凹槽上下运动。

优选的，所述复位连接部开设有复位通孔，所述复位轴杆穿过所述复位通孔。

优选的，所述转换板包括转换板本体，所述第五侧壁由所述转换板本体的下表面向下延伸形成，所述转换板本体的边缘开设有让位槽，所述销轴凹槽与所述让位槽围成用于放置所述复位头部和复位主体的让位区域。

优选的，所述复位结构为注塑件。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型提出了具有新型复位结构的老化测试座，通过在所述基座的第四侧壁外侧设置复位结构，利用杠杆原理，使其同时与转换板和基盖相互配合来替代现有老化座中的弹簧来实现复位，避免了弹簧生锈以及长时间使用而造成的复位力不足等问题，且减少了下压时对基盖的反作用力，可以满足测试设备同时下压多个基盖的要求，保证了测试质量，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为隐去基盖的结构示意图；

图3为隐去基座的结构示意图；

图4为隐去转换板的结构示意图；