[实用新型]单发次X射线时间演化过程测量系统有效
| 申请号： | 201921639668.5 | 申请日： | 2019-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN210720734U | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 王峰;刘祥明;理玉龙;徐涛;彭晓世;魏惠月;关赞洋;刘欣城 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01T1/24 |
| 代理公司： | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人： | 蔡冬彦 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种单发次X射线时间演化过程测量系统，包括探测激光传输光路、纳秒激光传输光路、金属球和记录模块，其中，所述探测激光传输光路具有半透半反镜和多段延时反射镜。采用以上技术方案的单发次X射线时间演化过程测量系统，设计巧妙，易于实现，能够测量X射线时间演化过程，克服了不同发次的强激光或者X射线存在差异，以及材料本身的结构与性质不同等问题；并且，测量时间分辨率可以根据测量需求不同进行调节；同时适用范围广，不仅适用于X射线时间演化过程的测量，也适用于其他高能量单脉冲激光的脉冲宽度测量；因此，具有时间分辨率高、可调谐、适用范围广等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 单发 射线 时间 演化 过程 测量 系统 | ||
【主权项】：
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