[实用新型]单发次X射线时间演化过程测量系统

权利要求书

1.一种单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：包括探测激光传输光路、纳秒激光传输光路、金属球(6)和记录模块，其中，所述探测激光传输光路具有半透半反镜(21)和多段延时反射镜(22)；

一束超短脉冲激光进入探测激光传输光路后，透过半透半反镜(21)后射向多段延时反射镜(22)，由多段延时反射镜(22)向半透半反镜(21)反射回若干先后依次到达的探测激光；

一束纳秒激光经纳秒激光传输光路聚焦到金属球(6)上，产生能够辐照到超快响应介质(25)上的X射线；

其中，所述X射线到达超快响应介质(25)的时间介于各探测激光到达超快响应介质(25)的时间之间，所述记录模块记录通过超快响应介质(25)的探测激光的强度变化。

2.根据权利要求1所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述多段延时反射镜(22)包括位于中心位置的中心反射面(22a)以及呈环形台阶状依次布置在中心反射面(22a)周围的环形反射面(22b)，各个环形反射面(22b)与半透半反镜(21)的距离自远离中心反射面(22a)的方向逐渐增大。

3.根据权利要求2所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述中心反射面(22a)为圆形，各个环形反射面(22b)均为圆环形，各个环形反射面(22b)的宽度均等于中心反射面(22a)的半径，且中心反射面(22a)与相邻环形反射面(22b)的高差等于各个相邻环形反射面(22b)之间的高差。

4.根据权利要求1所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述探测激光传输光路包括第一可调衰减器(8)、第一聚焦透镜(9)、倍频晶体(11)、准直透镜(10)、短波通滤光片(12)、延迟组件、第一反射镜(17)、第二聚焦透镜(18)、通光小孔(20)、扩束透镜(19)和第三聚焦透镜(23)；

一束超短脉冲激光依次经第一可调衰减器(8)、第一聚焦透镜(9)、倍频晶体(11)、准直透镜(10)、短波通滤光片(12)、延迟组件、第一反射镜(17)、第二聚焦透镜(18)、通光小孔(20)和扩束透镜(19)后，透过半透半反镜(21)，射向多段延时反射镜(22)，由多段延时反射镜(22)向半透半反镜(21)反射回若干先后依次到达的探测激光，各探测激光先后依次经第三聚焦透镜(23)聚焦到超快响应介质(25)上。

5.根据权利要求4所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述延迟组件包括第二反射镜(13)、第三反射镜(14)、平移台(15)和设置在平移台(15)上的中空回射器(16)，所述第二反射镜(13)、中空回射器(16)和第三反射镜(14)在短波通滤光片(12)和第一反射镜(17)之间依次传输，所述中空回射器(16)能够在平移台(15)的驱动下移动，以改变光路长度。

6.根据权利要求4所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述记录模块包括CCD(28)，在所述第三聚焦透镜(23)和超快响应介质(25)之间设置有第一偏振片(24)，在所述超快响应介质(25)和CCD(28)之间设置有第二偏振片(27)，所述第一偏振片(24)与第二偏振片(27)的偏振方向正交。

7.根据权利要求1所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述纳秒激光传输光路包括第二可调衰减器(1)、反射镜组和第四聚焦透镜(5)；

一束纳秒激光依次经第二可调衰减器(1)、反射镜组和第四聚焦透镜(5)聚焦到金属球(6)上，产生能够辐照到超快响应介质(25)上的X射线。

8.根据权利要求1所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：还包括靶室(29)，至少所述超快响应介质(25)和金属球(6)位于靶室(29)中，所述靶室(29)上具有可供激光注入以及信号输出的玻璃窗口。

9.根据权利要求1所述的单发次X射线时间演化过程测量系统，其特征在于：所述超快响应介质(25)位于能够透过X射线的屏蔽罩(26)中，在所述屏蔽罩(26)上开设有可供激光通过的小孔。