[实用新型]一种可调整的不良IC产品检测装置

摘要

本实用新型公开了IC芯片封装领域内的一种可调整的不良IC产品检测装置，包括放置在输送机构上的水平料带，料带上依次间隔设置有若干基板，每个基板上均设有IC芯片，不良IC芯片的基板上竖直贯穿开设有标记孔，所述料带的下侧设置有可发出红外光的检测光感器，检测光感器安装在位置调节机构上，检测光感器的光线发射端轴线与料带相垂直，检测光感器发射出的红外光向上穿过标记孔，所述料带的上方设置有机台信号接受器，机台信号接受器可对应接收穿过标记孔的红外光。本实用新型能够提高不良IC产品的识别效率，实现自动化筛选不良IC产品，识别精度高，避免不良IC产品流出。