[实用新型]一种用于集成电路的测试装置有效
申请号: | 201921630999.2 | 申请日: | 2019-09-28 |
公开(公告)号: | CN211014349U | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 李建中;夏中宇;徐雪舟 | 申请(专利权)人: | 无锡美偌科微电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人: | 明志会 |
地址: | 214135 江苏省无锡市无锡新区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于集成电路的测试装置,包括底座,底座上方通过升降组件固定安装有安装底板,安装底板上方通过伸缩杆活动安装有检测上板,安装底板两侧固定安装有支撑架,伸缩杆表面套接有缓冲弹簧,支撑架顶部中心竖直固定安装有第一液压升降缸,第一液压升降缸输出轴端通过探针安装座安装有若干检测探针,检测上板上表面两侧对角线设置有两个夹块,检测上板上表面均与间距铺设有若干真空吸盘,真空吸盘输入端连接有真空泵。本实用新型结构简单合理,大大方便了人们对集成电路进行检测,提升了集成电路的检测效率,且有效提升了集成电路的检测效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】:
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