[实用新型]一种用于集成电路的测试装置有效

专利信息
申请号: 201921630999.2 申请日: 2019-09-28
公开(公告)号: CN211014349U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 李建中;夏中宇;徐雪舟 申请(专利权)人: 无锡美偌科微电子有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 代理人: 明志会
地址: 214135 江苏省无锡市无锡新区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:包括底座(1),所述底座(1)上方通过升降组件(2)固定安装有安装底板(3),所述安装底板(3)上方通过伸缩杆(4)活动安装有检测上板(5),且安装底板(3)两侧固定安装有支撑架(6),所述伸缩杆(4)表面套接有缓冲弹簧(7),所述支撑架(6)呈“ㄇ”状,且所述支撑架(6)顶部中心竖直固定安装有第一液压升降缸(8),所述第一液压升降缸(8)输出轴端通过探针安装座(9)安装有若干检测探针(10),所述检测上板(5)上表面两侧对角线设置有两个夹块(11),所述检测上板(5)上表面均与间距铺设有若干真空吸盘(12),所述真空吸盘(12)输入端连接有真空泵(13),所述真空泵(13)固定安装在安装底板(3)一侧。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:所述升降组件(2)包括分别设置在安装底板(3)底面四角的四根第二液压升降缸(14)。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:所述伸缩杆(4)为四个,且四个所述伸缩杆(4)分别位于检测上板(5)下表面四角。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:所述伸缩杆(4)包括外套管(16)和滑动套接在外套管(16)内的内滑杆(17)。

5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:所述检测上板(5)上表面设置有顶板(19),所述顶板(19)呈矩形框架结构,且顶板(19)上表面与检测上板(5)上表面平齐,所述顶板(19)底面四角均设置有第三液压升降缸(15),四个所述第三液压升降缸(15)均固定安装在检测上板(5)内。

6.根据权利要求5所述的一种用于集成电路的测试装置,其特征在于:所述检测上板(5)和顶板(19)上表面均铺设满有绝缘橡胶层(18)。

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