[实用新型]一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置有效
| 申请号： | 201921494783.8 | 申请日： | 2019-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN210863099U | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 何志平;吴金才;窦永昊;王天洪;舒嵘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本专利公开了一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，该装置由波长可调谐单色光光源模块、起偏器、待检波片、检偏器、能量探测组件组成，待检波片位于起偏器与检偏器中间，旋转待检波片导致出射光能量变化，通过测试出光能量的变化来准确标定波片相位延迟量。本专利优点在于：测量方法简单，可以测量不同波长处波片的相位延迟角度，测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 aotf 单色光 测量 波段 性能 装置 | ||
【主权项】：
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