[实用新型]一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置

权利要求书

1.一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，包括波长可调谐单色光光源模块(1)、带旋转结构的待测波片(2)、检偏器(3)和能量探测组件(4)，其特征在于：

所述的波长可调谐单色光光源模块(1)由光纤输出的宽光谱光源(1-1)、准直透镜(1-2)、声光可调滤光器(1-3)、遮光板(1-4)组成，测试时光纤输出的宽光谱光源(1-1)出射的光经过准直透镜(1-2)后成为平行光，入射到射频可调的声光可调滤光器(1-3)，出射光会产生对应波长的衍射光，利用遮光板(1-4)遮挡负1级衍射光及零级光，所产生的正1级衍射光经过带旋转结构的待测波片(2)、检偏器(3)后，被能量探测组件(4)检测，通过旋转带旋转结构的待测波片(2)来改变出射光的偏振状态，从而导致能量探测组件(4)探测到光的能量变化，通过能量变化情况来准确快速标定带旋转结构的待测波片(2)的相位延迟量；通过波长可调谐单色光光源模块(1)来改变出射光的波长，从而获取宽波段波片的相位延迟量。

2.根据权利要求1所述的一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，其特征在于：所述的波长可调谐单色光光源模块(1)、检偏器(3)的波长范围需要与带旋转结构的待测波片(2)相适应。

3.根据权利要求1所述的一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，其特征在于：所述的检偏器(3)为带旋转结构的偏振片，偏振片的使用波长范围需要覆盖带旋转结构的待测波片(2)的波长，同时该波段偏振消光比优于5000：1。

4.根据权利要求1所述的一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，其特征在于：所述的能量探测组件(4)所测量波长范围覆盖带旋转结构的待测波片(2)测试波长范围。