[实用新型]一种芯片多功能测试分选装置有效

专利信息
申请号: 201921247059.5 申请日: 2019-08-04
公开(公告)号: CN210676035U 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 吴明涛;王战朋;刘振 申请(专利权)人: 苏州易锝玛精密机械有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种芯片多功能测试分选装置,包括:机架,所述机架的两侧安装有分选机构,所述机架的中侧安装有PLC控制器、开关和急停开关,所述分选机构包括支撑架,所述支撑架安装在机架的侧边,所述支撑架上支撑有送料振动器,所述送料振动器的上端连接有料仓,所述送料振动器的右端连接有送料槽,所述直线送料槽下侧的机架上通过支柱安装有定位盘,所述定位盘内安装有分料盘,本实用新型一种芯片多功能测试分选装置的优点是:结构紧凑,芯片经料仓,途径送料振动器和直线送料槽进行送料,自动化程度高,料盘在凸轮分隔1器的控制下转动,送料精准,芯片在芯片工位槽内经测试针头进行测试。
搜索关键词: 一种 芯片 多功能 测试 分选 装置
【主权项】:
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