[实用新型]一种新型芯片测试吸附结构有效
申请号: | 201921191909.4 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN210323278U | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 王战朋;刘振 | 申请(专利权)人: | 苏州易锝玛精密机械有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种新型芯片测试吸附结构,包括:基板,所述基板的中侧设有槽体,所述槽体的内部两侧设有套管,所述套管上安装有柱塞,所述柱塞的中侧设有塞板,所述柱塞的下侧连接有通气管,所述通气管安装在套管内,所述槽体上通过第一螺丝安装有盖板,本实用新型一种新型芯片测试吸附结构的优点是:结构紧凑,安装稳固,测压模块上的矩形卡爪,用于固定,支撑,保护芯片引脚;柱塞用于连通压板和基板,并起到支撑作用;柱塞头部装有吸嘴,芯片吸附固定力强。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 芯片 测试 吸附 结构 | ||
【主权项】:
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