[实用新型]可调IC测试座有效
| 申请号： | 201920940364.6 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN210243784U | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 刘泽鑫 | 申请（专利权）人： | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳鸿业专利代理有限公司 44546 | 代理人： | 朱海东;刘莎 |
| 地址： | 518110 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种可调IC测试座，包括基座和四个移动块，基座上设置有放置芯片的第一凹陷部，移动块设置在第一凹陷部中，弹性结构设置在第一凹陷部的内侧壁和移动块之间；移动块向靠近第一凹陷部的内侧壁的方向移动，弹性结构被压缩，增大第一凹陷部中放置芯片的区域；弹性结构恢复形变，移动块在弹力的作用下向远离内侧壁的方向移动，减小第一凹陷部中放置芯片的区域。可调IC测试座采用了移动块，利用弹性结构平衡压力的原理，通过增加或减小移动块与第一凹陷部的内侧壁的距离，将芯片固定在测试座的中心，使得测试座中放置芯片的区域变小或变大，从而可以测试不同尺寸的芯片，避免频繁更换测试座，具有使用方便、通用性强和节约成本等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 可调 ic 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市容微精密电子有限公司，未经深圳市容微精密电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201920940364.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种高速公路路面修补检测设备
- 下一篇：一种双回转气雾栽培植物工厂
