[实用新型]一种半导体自动筛选设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体自动筛选设备，涉及筛选装置相关领域，为解决现有技术中的无法清晰的观察集成电路板的表面结构来判断集成电路板是否损坏，无法较为便利的固定集成电路板的问题。所述底座上端的一侧设置有蓄电池，所述蓄电池的一侧设置有二号滑道，所述二号滑道的内部设置有伸缩杆，所述伸缩杆的上端设置有支撑杆，所述支撑杆的内部设置有三号滑道，所述三号滑道的内部设置有探针，所述探针下端的一侧设置有NNF‑D5M1‑W150红外光传感器，所述探针的下端设置有卡块，所述卡块的下端设置有探测台，所述探测台的内部设置有一号滑道，所述探测台的一侧设置有显示屏底座，所述显示屏底座的上端设置有LED显示屏。