[实用新型]一种半导体自动筛选设备

说明书

本实用新型公开了一种半导体自动筛选设备，涉及筛选装置相关领域，为解决现有技术中的无法清晰的观察集成电路板的表面结构来判断集成电路板是否损坏，无法较为便利的固定集成电路板的问题。所述底座上端的一侧设置有蓄电池，所述蓄电池的一侧设置有二号滑道，所述二号滑道的内部设置有伸缩杆，所述伸缩杆的上端设置有支撑杆，所述支撑杆的内部设置有三号滑道，所述三号滑道的内部设置有探针，所述探针下端的一侧设置有NNF‑D5M1‑W150红外光传感器，所述探针的下端设置有卡块，所述卡块的下端设置有探测台，所述探测台的内部设置有一号滑道，所述探测台的一侧设置有显示屏底座，所述显示屏底座的上端设置有LED显示屏。

技术领域

本实用新型涉及筛选装置相关领域，具体为一种半导体自动筛选设备。

背景技术

目前，半导体可以分为四类产品，分别是集成电路、光电子器件、分立器件和传感器。其中规模最大的是集成电路，占半导体市场的81％，半导体是一类材料的总称，集成电路是用半导体材料制成的电路的大型集合，集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管。电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。大型晶体管单元数组的集成电路通常会在半导体制程中的晶圆阶段及封装阶段利用在线检视以及直流电子探针测试的方法来进行测试，以找出次品，但是往往在生产过程中，由于筛选装置的功用不同，就会带来不同的效果，一般的半导体筛选是通过人工使用探测笔来进行探测来进行检验。

现有的筛选工具都无法清晰的观察集成电路板的表面结构来判断集成电路板是否损坏，无法较为便利的固定集成电路板；因此市场急需研制一种半导体自动筛选设备来帮助人们解决现有的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体自动筛选设备，以解决上述背景技术中提出的无法清晰的观察集成电路板的表面结构来判断集成电路板是否损坏，无法较为便利的固定集成电路板的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体自动筛选设备，包括底座和NNF-D5M1-W150红外光接收设备，所述底座上端的一侧设置有蓄电池，所述蓄电池的一侧设置有二号滑道，所述二号滑道的内部设置有伸缩杆，所述伸缩杆的上端设置有支撑杆，所述支撑杆的内部设置有三号滑道，所述三号滑道的内部设置有探针，所述探针下端的一侧设置有NNF-D5M1-W150红外光传感器，所述探针的下端设置有卡块，所述卡块的下端设置有探测台，所述探测台的内部设置有一号滑道，所述探测台的一侧设置有显示屏底座，所述显示屏底座的上端设置有LED显示屏。

优选的，所述NNF-D5M1-W150红外光传感器包括透射式光学系统，所述透射式光学系统的输出端与HW-KPDE030-46红外光电二极管的输入端连接，所述HW-KPDE030-46红外光电二极管的输入端与NTC-MF52AT热敏电阻的输出端连接，所述HW-KPDE030-46红外光电二极管的输入端与模拟数字转换器的输出端连接，所述HW-KPDE030-46红外光电二极管的输出端与3mm平头光敏二极管的输入端连接，所述3mm平头光敏二极管的输出端与SL0038T红外线一体化接收头的输入端连接。

优选的，所述卡块与探测台通过一号滑道连接，所述伸缩杆与底座通过二号滑道连接，所述探针与支撑杆通过三号滑道连接。

优选的，所述LED显示屏与显示屏底座固定连接，所述显示屏底座与底座固定连接。

优选的，所述探针与NNF-D5M1-W150红外光传感器电性连接。

优选的，所述卡块的一侧设置有海绵层，且海绵层与卡块粘贴连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：