[实用新型]用于芯片频率响应的测试治具有效
| 申请号： | 201920646015.3 | 申请日： | 2019-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN210109154U | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 杨重英;苏辉;薛正群;吴林福生 | 申请（专利权）人： | 福建中科光芯光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 林捷;蔡学俊 |
| 地址： | 362700 福建省泉州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于芯片频率响应的测试治具，其特征在于：包括上、下夹层和设在上、下夹层之间的控温器件，所述上夹层的上表面靠近第一边缘设有用于放置测试样品的凹陷槽，所述上夹层上从第二边缘向中心部开设有沉孔，所述沉孔内设置有温度传感器。本实用新型结构设计简单、合理，可以进行不同温度的恒温测试和对测试样品全面分析。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 频率响应 测试 | ||
【主权项】：
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