[实用新型]一种可移动调节的晶体测距检验装置有效
| 申请号： | 201920365505.6 | 申请日： | 2019-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN209570109U | 公开（公告）日： | 2019-11-01 |
| 发明（设计）人： | 靳霄曦;徐伟;魏汝省;张继光;李斌;王英民;侯晓蕊;周立平;张峰;弓吉祥 | 申请（专利权）人： | 山西烁科晶体有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 太原高欣科创专利代理事务所(普通合伙) 14109 | 代理人： | 冷锦超;吴立 |
| 地址： | 030006 山西省太*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种可移动调节的晶体测距检验装置，属于半导体加工领域；所要解决的技术问题是提供了一种结构简单，操作方便，测量准确，精度可靠，满足后续需求的可移动调节的晶体测距检验装置；解决该技术问题采用的技术方案为：一种可移动调节的晶体测距检验装置，包括底座，底座上设置有切割板，切割板上设置有可滑动的U型座，U型座上方设置有支撑板，支撑板与U型座相互垂直，支撑板上设置有旋转杆，旋转杆与底座相互平行，旋转杆一端与支撑板相连，另一端设置有测距控制杆，测距控制杆与旋转杆相互垂直，测距控制杆一端与旋转杆相连，另一端设置有测距表；本实用新型可广泛应用于半导体加工领域。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 旋转杆 可移动调节 检验装置 支撑板 控制杆 底座 半导体加工领域 本实用新型 一端设置 切割板 垂直 可滑动 平行 测量 应用 | ||
【主权项】：
1.一种可移动调节的晶体测距检验装置，其特征在于：包括底座（1），底座（1）上设置有切割板（2），切割板（2）上设置有可滑动的U型座（3），U型座（3）上方设置有支撑板（4），支撑板（4）与U型座（3）相互垂直，支撑板（4）上设置有旋转杆（5），旋转杆（5）与底座（1）相互平行，旋转杆（5）一端与支撑板（4）相连，另一端设置有测距控制杆（6），测距控制杆（6）与旋转杆（5）相互垂直，测距控制杆（6）一端与旋转杆（5）相连，另一端设置有测距表（7）。
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