[发明专利]图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法及系统有效
| 申请号： | 201911409099.X | 申请日： | 2019-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN111044152B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 张天序;戴旺卓;吕思曼;陈全;董帅;郭诗嘉;郭婷;苏轩 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学;武汉工程大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J3/28 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法及系统，属于光谱学与遥感的交叉技术领域，包括：第一阶段：将整个测量谱段划分为若干谱段，在每一个谱段内利用光谱传感器采集黑体数据并去噪，计算得出多组系统辐射偏置与系统响应函数，从而求得该谱段内系统辐射偏置随温度变化的变化模型，获得各个谱段内的变化模型后，综合得到整个测量谱段内系统辐射偏置随温度变化的变化模型b(λ″)；第二阶段：在任一测量时刻，获得外场条件下的实时温度t，代入变化模型b(λ″)后，得到光系统辐射偏置b |
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| 搜索关键词： | 图谱 关联 系统 光谱 偏置 外场 自适应 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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